Namlikni aniqlash uchun ikki xil o'lchash texnikasining tamoyillari
Har xil namlik o'lchovlarini tavsiflashdan oldin, namlik miqdorini aniqlash kerak. Namlik miqdori odatda umumiy mahsulot (ho'l asos) yoki quruq mahsulot (quruq asos) og'irligi bo'yicha foiz sifatida ifodalanadi.
Namlik asosi namligi: M=100 x (ho'l vazn - quruq vazn) / nam og'irlik
Quruq asosda namlik: M=100 x (ho'l vazn - quruq vazn) / quruq vazn
Yuqoridagi formulaga ko'ra, nam asosning namligi 100 foizdan oshmasligi kerak. Quruq asosning namligi 100 foizdan oshishi mumkin va chiziqli bo'lmagan funktsiyadir. Namlik miqdori bir qator texnikalar bilan aniqlanishi mumkin. Ularni ikkita asosiy toifaga bo'lish mumkin, asosiy va ikkilamchi ko'rsatkichlar.
I. Radiochastotali dielektrik texnikasi
Bu usul ko'pchilik qattiq moddalarga nisbatan suvning yuqori dielektrik o'tkazuvchanligiga tayanadi.
Dielektrikni aniqlash uchun bir qator usullar ishlab chiqilgan, jumladan, RF, mikroto'lqinli va vaqt-domen reflektometriyasi. Materialning nisbiy dielektrik o'tkazuvchanligini o'lchash uchun materialni sensorli zanjirga elektr bilan ulash kerak. Bu materialni ikkita parallel elektrod orasiga joylashtirish orqali amalga oshirilishi mumkin, ammo bu on-layn ilovalarni osonlashtirmaydi. Agar sensorli sxema RF da ishlayotgan bo'lsa, RF energiyasini material orqali tarqatish va shu bilan mahsulotga jismoniy aloqa qilmasdan ulash oson. Planar chekka maydon elektrodlari jarayonga kamroq ta'sir qiladigan bir tomonlama o'lchov tuzilishini ta'minlaydi.
Qattiq mahsulotning elektr analogi qochqinning o'tkazuvchanligiga parallel ravishda kondansatördir. Ushbu komponentlar namlikdan ta'sirlanadi, ammo dielektrik o'tkazuvchanligi juda prognoz qilinadi, yo'qotish omili esa yo'q. Birlashtirilgan komponentlar osonlik bilan o'lchanadigan murakkab impedansni ifodalaydi, ammo namlikdan boshqa o'zgaruvchilar ta'sir qilishi mumkin.
Haqiqiy dielektrik namlik o'lchagichlar kamdan-kam uchraydi, chunki arzon narxlardagi asboblarning aksariyati dielektrik va yo'qotish komponentlarini ajratishga urinmaydi. Eng kam xarajatli asboblar har qanday uzoq muddatli barqarorlik va takrorlanuvchanlik bilan birlashtirilgan empedansni o'lchashga juda oz yoki umuman urinmaydi.
Bu penetratsion o'lchovdir va bir hil bo'lmagan mahsulotlarni o'lchashi mumkin.
U mahsulot uchun ko'proq vakillik umumiy o'rtacha namlikni ta'minlaydigan katta o'lchov maydoniga ega.
Boshqa in-line texnologiyalari bilan solishtirganda nisbatan arzon.
Bu juda ishonchli va mustahkam bo'lib, eskirish yoki sindirish uchun harakatlanuvchi qismlarga ega emas.
Turli xil mexanik sensorlar jarayon sharoitlarining keng doirasiga mos ravishda ishlab chiqilgan va ular yuqori haroratli muhitda ishlatilishi mumkin.
II. Infraqizil texnologiyasi
Near Infraqizil Reflectance (NIR yoki IR) texnologiyasi namlikni onlayn tekshirish uchun keng qo'llaniladigan texnologiyadir. Uning mashhurligining katta qismi foydalanish qulayligi bilan bog'liq.
Yorug'lik manbai (odatda kvarts halogen lampochka) kolimatsiya qilinadi va ma'lum bir to'lqin uzunligiga filtrlanadi. Aylanadigan g'ildirakka o'rnatilgan filtr yorug'likni ma'lum bir to'lqin uzunligidagi impulslar seriyasiga ajratadi. Filtrlangan yorug'lik nuri o'lchanadigan mahsulot yuzasiga yo'naltiriladi. Yorug'likning bir qismi detektorga qaytariladi (odatda qo'rg'oshin sulfid). Yorug'likning ma'lum bir to'lqin uzunligi suv tomonidan so'riladi. Agar filtr bitta to'lqin uzunligi suv (namuna nuri) tomonidan so'rilishi va bitta to'lqin uzunligi suv (mos yozuvlar nuri) tomonidan ta'sirlanmaydigan qilib tanlansa, aks ettirilgan ikki to'lqin uzunligining amplituda nisbati to'lqin uzunligi miqdoriga mutanosib bo'ladi. suvdagi suv.
Qo'llash oson. Odatda mahsulotdan 6 dan 10 dyuymgacha o'rnatiladi. Mahsulot balandligining o'rtacha o'zgarishi o'lchovga juda kam yoki umuman ta'sir qilmaydi.
Skanerlash ramkasi bilan birlashtirilgan kichik nuqta o'lchov maydoni mahsulot profilini ta'minlaydi.
Namlikdan tashqari o'zgaruvchilarni o'lchash uchun maxsus to'lqin uzunliklari tanlanishi mumkin.
