Atom kuchi mikroskopining (AFM) printsipi va tuzilishi
1 ta kuchni aniqlash birligi
Atom kuchlari mikroskopi (AFM) tizimida o'lchanadigan kuch atomlar orasidagi Van der Vaals kuchidir. Ushbu tizimda atomlararo kuchdagi o'zgarishlarni aniqlash uchun mikro konsol ishlatiladi. Mikro konsollar uzunlik, kenglik, bahor doimiysi va uchi geometriyasi kabi ko'rsatilgan parametrlarga ega. Namuna xususiyatlari va ish rejimlariga ko'ra turli xil problar tanlanadi.
2 Joylashuvni aniqlash birligi
AFM tizimida konsol uchi va namuna o'rtasida o'zaro ta'sir sodir bo'lgandan keyin buriladi. Lazer nuri konsolning bo'sh uchini nurlantirganda, aks ettirilgan lazerning pozitsiyasi konsolning burilishi bilan birga o'zgaradi va siljish signalini hosil qiladi. Lazer nuqta pozitsiyasi detektori bu joy almashishni qayd qiladi va SPM kontrolleri tomonidan signalni qayta ishlash uchun uni elektr signaliga aylantiradi.
3 Qayta aloqa tizimi
AFM tizimida lazer detektori tomonidan olingan signallar ichki sozlash signallari sifatida teskari aloqa zanjiriga yuboriladi. Qayta aloqa tizimi odatda piezoelektrik keramik quvurlardan yasalgan skanerni uchi va namunasi o'rtasida doimiy o'zaro ta'sir kuchini saqlab turish uchun mos ravishda harakatga keltiradi.
AFM namuna yuzasi xususiyatlarini tavsiflash uchun yuqoridagi uchta birlikni birlashtiradi: Mikro konsol uchi va namuna o'rtasidagi o'zaro ta'sir kuchini sezadi. Bu kuch konsolni burishtiradi. Konsolning oxiriga lazer nuri tushadi; burilish aks ettirilgan yorug'likni siljitadi va siljishni hosil qiladi. Lazer detektori siljishni qayd qiladi va sozlash uchun signalni qayta aloqa tizimiga yuboradi. Nihoyat, namunaning sirt xususiyatlari tasvir sifatida ko'rsatiladi.
