Yangi energiya vositalarini sinovdan o'tkazishda multimetrdan foydalanishning asosiy nuqtalari
1. Yangi energiya vositalarini sinovdan o'tkazish uchun multimetr o'lchovdagi jiddiy xatolarga yo'l qo'ymaslik uchun etarlicha katta ichki qarshilikka ega bo'lishi kerak, bu sinovdan o'tgan sxemaning qarshiligidan kamida 10 barobar ko'p.
2. Prob yoki prob sirpanishga qarshi choralar bilan jihozlangan bo'lishi kerak. Har qanday lahzali qisqa tutashuv integral sxemaga osongina zarar etkazishi mumkin. Probning sirpanishini oldini olish uchun quyidagi usullarni qo'llash mumkin: velosipedning bir qismini oling va valf yadrosini probning uchiga joylashtiring va probning uchini taxminan 0,5 millimetrga uzaytiring. Bu nafaqat probning uchi va sinovdan o'tgan nuqta o'rtasida yaxshi aloqani ta'minlabgina qolmay, balki sirpanishni samarali oldini oladi va u qo'shni nuqtalarga tegsa ham, u qisqa tutashuvga ega bo'lmaydi.
3. Ma'lum bir pinning kuchlanishi normal qiymatga mos kelmasa, integral mikrosxemaning sifatini aniqlash uchun ushbu pinning kuchlanishi integral mikrosxemaning normal ishlashiga sezilarli ta'sir ko'rsatishini va boshqa pinlarning kuchlanishidagi tegishli o'zgarishlarni tahlil qilish kerak.
4. Integral elektron pinlarining kuchlanishiga periferik komponentlar ta'sir qiladi. Oqish, qisqa tutashuv, ochiq tutashuv yoki qiymat o'zgarishi mavjud bo'lganda
periferik komponentlarda yoki o'zgaruvchan qarshilikka ega potansiyometr periferik kontaktlarning zanglashiga olib ulanganda, potansiyometrning siljish qo'lining holati pin kuchlanishining o'zgarishiga olib keladi.
5. Agar integral mikrosxemaning har bir pinining kuchlanishi normal bo'lsa, odatda integral sxema normal deb hisoblanadi; Agar integral mikrosxemadagi ba'zi pinlarning kuchlanishi g'ayritabiiy bo'lsa, biz normal qiymatdan og'ish maksimal bo'lgan nuqtadan boshlashimiz kerak va periferik komponentlarning har qanday nosozliklarini tekshirishimiz kerak. Hech qanday nosozlik bo'lmasa, integral mikrosxemalar shikastlanishi mumkin.
6. Televizorlar kabi dinamik qabul qiluvchi qurilmalar uchun integral mikrosxemaning har bir pinidagi kuchlanish signal bilan va signalsiz o'zgaradi. Agar pinlarning kuchlanishi o'zgarmasligi, aksincha sezilarli darajada o'zgarishi va signal o'lchami va sozlanishi komponentlarning holati bilan o'zgarishi kerak bo'lgan kuchlanish o'zgarmasligi aniqlansa, integral sxemaning shikastlanganligini aniqlash mumkin.
7. Bir nechta ish rejimiga ega qurilmalar uchun integral mikrosxemaning har bir pinining kuchlanishi turli ish rejimlarida ham farq qiladi.
