Qalinlar qalinligi qirrali o'lchash printsipi
Yuqori chastotali AC signallari prob bo'yida elektromagnit maydonlarni yaratadi va tekshiruv o'tkazgichga yaqinlashganda, sud jarayonida Eddi oqimlari hosil bo'ladi. Tekshiruv o'tkazuvchan substratga qanchalik yaqin bo'lsa, esdy oqimi va aks ettirishning ta'siri shunchalik yuqori bo'ladi. Ushbu fikr-mulohazalar miqdori zond va o'tkazuvchan substrat o'rtasidagi masofani, ya'ni o'tkazuvchan substratda ko'taruvchi qoplamaning qalinligi orasidagi masofani tavsiflaydi. Qopqoqli qalinlikdagi qopqoqning qalinligi, palmagnit metal bo'lmagan substratlardagi qoplamaning qalinligini o'lchash uchun mo'ljallanganligi sababli, u odatda magnit bo'lmagan tekshiruv deb nomlanadi. Magnit bo'lmagan prob bo'lmaganlar palan yadrosi sifatida yuqori chastotali materiallardan foydalanadilar. Magnit indüksiyasining printsipi bilan taqqoslaganda, kabinet qalinligining zondining aksi boshqacha, signal chastotasi boshqacha, signallar hajmi va o'lchovlari boshqacha. Qoplamali qalinlik o'lchovi, masalan, kosmik kemalar, transport vositalari, derazalar, shuningdek bo'yoqlar, plastik qoplamalar va anodlangan filmlar, shu jumladan alyuminiy buyumlar, shu jumladan alyuminiy buyumlar, shu jumladan alyuminiy mahsulotlar, shu jumladan bo'yoqlar, plastik qoplamalar, shu jumladan bo'yoqlar, plastik qoplamalar va anadlangan filmlar, shu jumladan alyuminiy buyumlar, shu jumladan alyuminiy buyumlar, shu jumladan bo'yoqlar, plastik qoplamalar va anadlangan filmlar, shu jumladan alyuminiy buyumlar, shu jumladan alyuminiy buyumlar, shu jumladan bo'yoqlar, plastmassalar va anodiy filmlarning sirtlari va derazalari kiradigan barcha harakatchan paltolarni o'lchashi mumkin. Qoplovnomasi ma'lum bir subyektning ma'lum bir ilmiy darajasiga ega bo'lib, uni kalibrlash orqali o'lchash mumkin, ammo ikki tomoni o'rtasida o'tkazuvchanlikning kamida nisbati kamida {{5} bo'lgan bo'lishi kerak. Garchi po'lat substrat ham konduktor bo'lsa-da, bunday vazifalarni qoplash uchun magnit printsiplaridan foydalanish kerak.
Qalinlarning qalinligi o'lchovini o'lchashga ta'sir qiluvchi bir nechta omillar. Qalinlikni o'lchash uchun magnit usuli (amaliy dasturlarda, past uglerod po'latining past uglerod po'latining magnit xususiyatlariga o'zgartirishlar kiritilishi mumkin). Issiqlikni davolash va sovuqni qayta ishlash omillari, bir xil xususiyatlarga ega bo'lgan standart plitalar, asbobning asosiy metallari sifatida ishlatiladigan standart plitalardan foydalanilishi kerak; Asosiy metall o'tkazuvchanligi o'lchovga ta'sir qiladi va asosiy metall o'tkazuvchanligi uning moddiy tarkibi va issiqlik bilan davolash usuli bilan bog'liq. Bir xil xususiyatlarga ega bo'lgan standart plitalardan foydalaning, chunki namunalarning asosiy metallari asbobni kalibrlash uchun; Har bir asbobning katta qalinligi bor, undan keyin metal metallning qalinligi ta'sir ko'rsatmaydi; Namunaning sirt shaklidagi tik o'zgarishlarga sezgir, shuning uchun namunaning chetida yoki ichki burchagida o'lchash ishonchsiz; Namunaning egriligi o'lchovga ta'sir qiladi va u egrilik radiusining pasayishi bilan sezilarli darajada oshadi. Shuning uchun, egilgan namunalar yuzasida o'lchash, shuningdek, ishonchsiz; Proj yumshoq qoplama namunalarini deformatsiyaga olib keladi, shuning uchun bu namunalarda ishonchli ma'lumotlar ham o'lchanmaydi; Asosiy metall va qoplamaning yuzasi o'lchovga ta'sir qiladi. Patsionning ko'payishi ta'sirning kuchayishiga olib keladi va qo'pol yuzalar tizimli va tasodifiy xatolarga olib kelishi mumkin. Shuning uchun ushbu tasodifiy xatoni bartaraf etish uchun har bir o'lchov paytida o'lchovlar sonini ko'paytirish kerak. Agar substratda asosiy metall qo'pol bo'lsa, shunga o'xshash piksonning nol nuqtasini bir nechta pozitsiyani bir nechta pozitsiyalarni olish kerak, shunga o'xshash piksonning nol nuqtasini, eritmaning asosiy nuqtasini, so'ngra asbobning nol nuqtasini kaltaklash bilan qoplash kerak; Turli xil elektr jihozlar tomonidan ishlab chiqarilgan kuchli magnit maydon magnit qalinligining o'lchash ishlariga jiddiy aralashishi mumkin; Zond va qoplama yuzasi o'rtasidagi yaqin aloqaga xalaqit beradigan biriktirilgan moddalar olib tashlanishi kerak. O'lchashda bosim doimiy ravishda saqlanishi kerak va probedi aniq o'lchovga erishish uchun namuna paydo bo'lishi uchun perpendikulyar holatda bo'lishi kerak.
