Metalografik mikroskop va skanerlovchi elektron mikroskop o'rtasidagi farq nima?
Metalografik mikroskop - metall namunasi (metallografik tuzilma) yuzasini tushayotgan yorug'lik bilan kuzatish uchun ishlatiladigan mikroskop. U optik mikroskop texnologiyasi, fotoelektrik konversiya texnologiyasi va kompyuter tasvirini qayta ishlash texnologiyasini birlashtiradi. Yuqori texnologiyali mahsulotlar metallografik tasvirni kompyuterda osongina kuzatishi mumkin, shuning uchun metallografik tasvirni tahlil qilish, graduslash va hokazo bo'lishi mumkin va chiqish tasviri. Metalografik mikroskop - optik mikroskopning bir turi. Elektron mikroskop bilan solishtirganda, o'lchamlari kichikroq, mikron o'lchamlari kichikroq va kattalashtirish kichikroq, lekin uni ishlatish oson. Katta ko'rish maydoni, nisbatan past narx.
Metallografik mikroskop Elektron mikroskopni skanerlashda foydalaniladigan yangi turdagi elektro-optik asbob. Unda oson namuna tayyorlash, sozlanishi kattalashtirish maydoni kengligi, yuqori tasvir aniqligi, maydon chuqurligi va boshqalar mavjud. Skanerli elektron mikroskop o'nlab yillar davomida biologiya, tibbiyot va metallurgiya sohalarida keng qo'llanilgan va turli xil fanlarning rivojlanishiga yordam berdi. Elektron mikroskopni skanerlashning xususiyatlari: elektron mikroskop, tasvirning yuqori aniqligi, nano o'lchamli o'lchamlari, sozlanishi kattalashtirish va katta, yana bir muhim xususiyat - maydonning katta chuqurligi va boy uch o'lchamli tasvirlar.
Metalografik mikroskoplar va skanerlash elektron mikroskoplari o'rtasida, asosan, quyidagi jihatlarda katta farqlar mavjud:
1. Turli yorug'lik manbalari: metallografik mikroskoplar yorug'lik manbai sifatida ko'rinadigan yorug'likdan foydalanadi va skanerlash elektron mikroskoplari tasvirlash uchun yorug'lik manbai sifatida elektron nurlardan foydalanadi.
2. Printsip boshqacha: metallografik mikroskop skanerlash uchun geometrik optik tasvirlash printsipidan foydalanadi va skanerlash elektron mikroskopi sirtdagi turli jismoniy signallarni qo'zg'atish uchun namunaning sirtini bombardimon qilish uchun yuqori energiyali elektron nurlardan foydalanadi. namuna oling, so'ngra jismoniy signalni qabul qilish va uni tasvirga aylantirish uchun turli signal detektorlaridan foydalaning. ma `lumot.
3. Ruxsat: yorug'likning interferensiyasi va diffraksiyasi tufayli metallografik mikroskop faqat 0.2-0.5um bilan cheklanishi mumkin. Skanerli elektron mikroskopi yorug'lik manbai sifatida elektron nurdan foydalanadi va uning ruxsati 1-3nm ga yetishi mumkin. Shuning uchun mikro tuzilmani metallografik mikroskop yordamida kuzatish mikron tahliliga, skanerlash elektron mikroskop orqali kuzatish esa nanoshkalali tahlilga tegishli.
4. Maydon chuqurligi: Umumiy metallografik mikroskopning maydon chuqurligi 2-3um orasida bo'ladi, shuning uchun namunaning sirt silliqligi nihoyatda yuqori bo'lishi talab qilinadi, shuning uchun tayyorlash jarayoni nisbatan murakkab. SEM maydonining chuqurligi bir necha darajaga yetishi mumkin.
