Immersion va STED mikroskopi uchun chuqur fokus
Yuqori NA maqsadlarining chuqur fokuslanishi yuqori aniqlikdagi mikroskopiya tizimlari uchun juda muhim bo'lgan kichikroq PSF (nuqta tarqalishi funktsiyasi) ni ishlab chiqaradi. Ko'pgina boshqa mikroskop tizimlarida, masalan, immersion mikroskoplarda, immersion suyuqlikni namunadan ajratish uchun qopqoq ishlatiladi. Bu fokus tekisligida PSFni buzishi mumkin. Biz assimetrik PSF qoplamaning orqasida yanada cho'zilganligini ko'rsatamiz. Bundan tashqari, o'nlab nanometr o'lchamlarida keng qo'llaniladigan STED (stimulyatsiya qilingan emissiya depletion) mikroskopiyasi halqali PSFlarni iste'mol qiladi. P.Török va PRT Monro tomonidan taklif qilingan usuldan so'ng, biz Gauss-Lagler nurining chuqur fokuslanishini modellashtiramiz. Toroidal PSFni qanday yaratishni ko'rsatadi.
Yuqori NA immersion mikroskoplari bilan chuqur fokuslash
VirtualLab Fusion-da qoplama interfeysining PSFga ta'siri bevosita tahlil qilinishi mumkin. Qopqoq orqasidagi fokusli deformatsiya to'liq vektorlashtirilgan tarzda ko'rsatiladi va tahlil qilinadi.
STED mikroskopida Gauss-Lager nurlarining fokuslanishi
Natijalar shuni ko'rsatadiki, yuqori tartibli Gauss-Lager nurining fokuslanishi halqa shaklidagi PSF hosil qiladi. Halqali PSFning o'lchami, boshqa o'zgaruvchilar qatorida, nurning o'ziga xos tartibiga bog'liq.
