Atom kuch mikroskopi nima
Atom kuch mikroskopi: ob'ekt yuzasida mikroskopik xususiyatlarni kuzatish uchun atomlar va molekulalar o'rtasidagi o'zaro ta'sir kuchlaridan foydalanadigan yangi eksperimental usul. U sezgir manipulyatsiya qilingan mikron o'lchamli moslashuvchan konsolga o'rnatilgan nanometr o'lchamdagi zonddan iborat. Zond namunaga juda yaqin joylashganida, uning uchidagi atomlar va namuna yuzasidagi atomlar orasidagi kuchlar konsolning dastlabki holatidan uzoqlashishiga olib keladi. Uch o'lchamli tasvir namunani skanerlashda probning og'ish miqdori yoki tebranish chastotasidan tiklanadi. Namuna sirtining topografiyasini yoki atom tarkibini bilvosita olish mumkin.
U o'lchanadigan namuna yuzasi bilan miniatyura kuchga sezgir element orasidagi juda zaif atomlararo o'zaro ta'sir kuchlarini aniqlash orqali moddalarning sirt tuzilishi va xususiyatlarini o'rganish uchun ishlatiladi. Bir uchida zaif kuchlarga juda sezgir bo'lgan bir juft mikrokonsollar mahkamlanadi, ikkinchi uchida esa kichik uchi namunaga yaqinlashtiriladi, keyin u bilan o'zaro ta'sir qiladi va kuchlar mikrokontileverlarni keltirib chiqaradi. ularning harakat holatini deformatsiya qilish yoki o'zgartirish.
Namunani skanerlashda sensor bu o'zgarishlarni aniqlaydi va kuchlarning taqsimlanishi haqida ma'lumot oladi, shu bilan nano o'lchamdagi o'lchamlari bilan sirt tuzilishi haqida ma'lumot oladi. U igna uchiga ega mikrokantilever, mikrokantilever harakatni aniqlash moslamasi, uning harakatini kuzatish uchun qayta aloqa halqasi, namunani skanerlash uchun piezoelektrik keramik skanerlash moslamasi va kompyuter tomonidan boshqariladigan tasvirni olish, namoyish qilish va qayta ishlash tizimidan iborat. Mikrokantilever harakati tunnel oqimini aniqlash kabi elektr usullar yoki nurning burilishi va interferometriya kabi optik usullar bilan aniqlanishi mumkin. Igna uchi va namuna bir-biriga etarlicha yaqin bo'lganda va ular o'rtasida qisqa masofali o'zaro itarilish mavjud bo'lganda. ularni, repulsiyani tasvirning rezolyutsiyaning atom darajasining sirtini va umuman nanometr darajasining o'lchamlarini olish uchun aniqlanishi mumkin.Namunalarning AFM o'lchovlari maxsus talablarga ega emas va qattiq jismlarning sirtini o'lchash uchun ishlatilishi mumkin. va adsorbsion tizimlar.
