Namlikni aniqlash uchun ikki xil o'lchash texnologiyasi tamoyillari
1. Radiochastota dielektrik texnologiyasi
Bu usul ko'pchilik qattiq moddalarga nisbatan suvning yuqori dielektrik o'tkazuvchanligiga tayanadi.
Dielektriklarni aniqlash uchun bir qator usullar ishlab chiqilgan, jumladan, radiochastota, mikroto'lqinli va vaqt zonasi reflektometriyasi. Materialning nisbiy o'tkazuvchanligini o'lchash uchun materialni sensorli zanjirga elektr bilan ulash kerak. Bu materialni ikkita parallel elektrod orasiga joylashtirish orqali amalga oshirilishi mumkin, ammo bu in-line ilovalar uchun qulay emas. Agar sensor sxemasi radiochastotada ishlayotgan bo'lsa, RF energiyasini material orqali tarqatish oson bo'lib, uni mahsulotga jismoniy aloqa qilmasdan ulash imkonini beradi. Planar chekka maydon elektrodlari jarayonga kamroq ta'sir qiladigan bir tomonlama o'lchov tuzilishini ta'minlaydi.
Qattiq mahsulotning elektr analogi qochqinning o'tkazuvchanligiga parallel ravishda kondansatördir. Ushbu komponentlarning barchasi namlikdan ta'sirlanadi, ammo dielektrik o'tkazuvchanligi juda prognoz qilinadi, tarqalish omili esa yo'q. Birlashtirilgan komponent osonlik bilan o'lchanadigan murakkab impedansni ifodalaydi, lekin namlikdan boshqa o'zgaruvchilar ta'sir qilishi mumkin.
Haqiqiy dielektrik namlik o'lchagichlar kamdan-kam uchraydi, chunki arzon narxlardagi asboblarning aksariyati dielektrik va yo'qotish komponentlarini ajratishga urinmaydi. Eng kam xarajatli asboblar har qanday uzoq muddatli barqarorlik va takrorlanuvchanlik bilan birlashtirilgan empedansni o'lchashga juda oz yoki umuman urinishmaydi.
Bu bir hil bo'lmagan mahsulotlarni o'lchashi mumkin bo'lgan penetratsion o'lchovdir.
Mahsulotning umumiy o'rtacha namligini yanada vakillik bilan ta'minlash uchun u kattaroq o'lchov maydoniga ega.
Boshqa onlayn texnologiyalarga nisbatan nisbatan arzon.
Bu juda ishonchli, mustahkam va eskirish yoki sindirish uchun harakatlanuvchi qismlarga ega emas.
Har xil mexanik sensor dizaynlari har xil jarayon sharoitlariga mos keladi va yuqori haroratli muhitda ishlatilishi mumkin.
2. Infraqizil texnologiyasi
Near Infraqizil Reflectance (NIR yoki IR) texnologiyasi namlikni tekshirish uchun keng qo'llaniladigan usuldir. Uning mashhurligining ko'pchiligi foydalanish qulayligi bilan bog'liq.
Yorug'lik manbai (odatda kvarts halogen lampochkasi) ma'lum to'lqin uzunliklariga kolimatsiya qilinadi va filtrlanadi. Aylanadigan g'ildirakka o'rnatilgan optik filtrlar yorug'likni ma'lum to'lqin uzunlikdagi impulslar seriyasiga aylantiradi. Filtrlangan yorug'lik nuri o'lchov qilinadigan mahsulot yuzasiga yo'naltiriladi. Yorug'likning bir qismi detektorga qaytariladi (odatda qo'rg'oshin sulfid). Yorug'likning o'ziga xos to'lqin uzunliklari suv tomonidan so'riladi. Agar filtrlar shunday tanlangan bo'lsa, bitta to'lqin uzunligi suv (namuna nuri) tomonidan so'rilsa va bitta to'lqin uzunligi suv (mos yozuvlar nuri) tomonidan ta'sirlanmaydi, aks ettirilgan ikki to'lqin uzunligi amplitudalarining nisbati to'g'ridan-to'g'ri proportsional bo'ladi. suvdagi suv.
Qo'llash oson. Odatda mahsulotdan 6 dan 10 dyuymgacha o'rnatiladi. Mahsulot balandligining o'rtacha o'zgarishi o'lchovga juda oz ta'sir qiladi.
Skanerlash ramkasi bilan birlashtirilgan kichik nuqta o'lchov maydoni mahsulot konturlarini ta'minlaydi.
Namlikdan tashqari o'zgaruvchilarni o'lchash uchun maxsus to'lqin uzunliklari tanlanishi mumkin.
