Elektron mikroskopiya va metallografik mikroskopiya o'rtasidagi farq
Elektron mikroskopning skanerlash tamoyillari
SEM sifatida qisqartirilgan Scanning ElectronMicroscope elektron optik texnologiyasini, vakuum texnologiyasini, nozik mexanik tuzilmani va zamonaviy kompyuterni boshqarish texnologiyasini zichlashtirgan murakkab tizimdir. Skanerli elektron mikroskop yuqori kuchlanishni tezlashtirish ta'sirida elektron qurol tomonidan chiqarilgan elektronlarni ko'p bosqichli elektromagnit linzalar orqali kichik elektron nurga to'playdi. Namuna yuzasida skanerlash turli xil ma'lumotlarni rag'batlantiradi va ma'lumotni qabul qilish, kuchaytirish va ko'rsatish orqali namuna yuzasini tahlil qilish mumkin. Voqea sodir bo'lgan elektronlar va namuna o'rtasidagi o'zaro ta'sir 1-rasmda ko'rsatilgan ma'lumotlar turlarini hosil qiladi. Ushbu ma'lumotning ikki o'lchovli intensivlik taqsimoti namuna yuzasining xususiyatlariga qarab o'zgaradi (bu xarakteristikalar sirt morfologiyasi, tarkibi, kristall orientatsiyasi, elektromagnit xususiyatlari, va hokazo), bu turli detektorlar tomonidan to'plangan ma'lumotlarni ketma-ket va mutanosib ravishda konvertatsiya qilishdir. Video signal video signalga aylantiriladi va keyin sinxron skanerlanuvchi rasm naychasiga yuboriladi va namunaning sirt holatini aks ettiruvchi skanerlangan tasvirni olish uchun uning yorqinligi modulyatsiya qilinadi. Agar detektor tomonidan qabul qilingan signal raqamli qayta ishlansa va raqamli signalga aylantirilsa, uni kompyuterda qayta ishlash va saqlash mumkin. Skanerli elektron mikroskop asosan balandlik farqlari va qo'pol notekisligi bo'lgan qalin namunalarni kuzatish uchun ishlatiladi. Shuning uchun dizayn maydon effektining chuqurligini ta'kidlaydi. Odatda sun'iy ishlov berilmagan yoriqlar va tabiiy sirtlarni tahlil qilish uchun ishlatiladi.
Elektron mikroskop va metallurgiya mikroskoplari
1. Turli yorug'lik manbalari: Metallografik mikroskoplar yorug'lik manbai sifatida ko'rinadigan yorug'likdan foydalanadi va skanerlash elektron mikroskoplari tasvirlash uchun yorug'lik manbai sifatida elektron nurlardan foydalanadi.
2. Turli xil printsiplar: Metallografik mikroskoplar tasvirni amalga oshirish uchun geometrik optik tasvirlash tamoyillaridan foydalanadi, skanerlash elektron mikroskoplari esa namuna yuzasida turli xil jismoniy signallarni rag'batlantirish uchun namuna yuzasini bombardimon qilish uchun yuqori energiyali elektron nurlardan foydalanadi va keyin turli xil signal detektorlarini qabul qilish uchun foydalanadi. jismoniy signallar va ularni tasvirga aylantirish. ma `lumot.
3. Turli ruxsatlar: yorug'likning interferensiyasi va diffraksiyasi tufayli metallografik mikroskopning ruxsati faqat 0.2-0.5um bilan cheklanishi mumkin. Skanerlovchi elektron mikroskop yorug'lik manbai sifatida elektron nurlardan foydalanganligi sababli, uning o'lchamlari 1-3nm gacha bo'lishi mumkin. Shuning uchun metallografik mikroskop ostidagi to'qimalarni kuzatish mikron darajasidagi tahlilga, skanerlash elektron mikroskop ostidagi to'qimalarni kuzatish esa nano-darajali tahlilga tegishli.
4. Turli xil maydon chuqurligi: Odatda, metallografik mikroskopning maydon chuqurligi 2-3um oralig'ida bo'ladi, shuning uchun u namunaning sirt silliqligiga juda yuqori talablarga ega, shuning uchun uni namuna tayyorlash jarayoni nisbatan murakkab. Skanerli elektron mikroskop katta chuqurlik, katta ko'rish maydoni va uch o'lchovli tasvirga ega va turli namunalarning notekis yuzalarining nozik tuzilmalarini bevosita kuzatishi mumkin.
