Atom kuch mikroskopi va optik mikroskop va elektron mikroskop o'rtasidagi farq
AFM va optik va elektron mikroskop kabi raqobatdosh texnologiyalar o'rtasidagi asosiy farq shundaki, AFM linzalar yoki yorug'lik nurlaridan foydalanmaydi. Shunday qilib, u diffraktsiya va aberratsiyalar tufayli fazoviy ruxsat bilan cheklanmaydi va nurni yo'naltirish (vakuum yaratish orqali) va namunani bo'yash uchun joy tayyorlashni talab qilmaydi.
Skanerli mikroskoplarning bir nechta turlari mavjud, jumladan, skanerlovchi zond mikroskopiyasi (jumladan, AFM, skanerlovchi tunnelli mikroskop (STM) va yaqin maydonni skanerlovchi optik mikroskop (SNOM/NSOM), STED mikroskopi (STED), shuningdek skanerlovchi elektron mikroskop va elektrokimyoviy atomik kuch mikroskopi EC -AFM). SNOM va STED namunalarni ko'rinadigan, infraqizil va hatto terahertz nurlari bilan yoritgan bo'lsa-da, ularning o'lchamlari diffraktsiya chegarasi bilan cheklanmaydi.
