Mikroskoplarning bir qancha muhim optik texnik parametrlari
1, raqamli diafragma (NA)
Raqamli diafragma ob'ektiv linzalarning ishlashini aniqlashda asosiy omil hisoblanadi (ravshanlik, fokus chuqurligi va yorqinlik).
Raqamli diafragma (NA) quyidagi tenglama yordamida hisoblanadi.
NA=n × Sinx
N=namuna va obyektiv linzalari orasidagi muhitning sinishi indeksi (havo: n=1, moy: n=1,515)
X: optik o'q va ob'ektiv linzaning markazidan uzoqda singan yorug'likdan hosil bo'lgan burchak.
Mikroskop ostida kuzatayotganda, agar siz NA qiymatini oshirmoqchi bo'lsangiz, diafragma burchagini oshirib bo'lmaydi. Yechim muhitning sindirish ko'rsatkichi n qiymatini oshirishdan iborat. Ushbu tamoyilga asoslanib, suvga botiriladigan ob'ektiv linzalar va moyli ob'ektiv linzalar ishlab chiqariladi. Muhitning n sindirish ko'rsatkichi birdan katta bo'lgani uchun NA qiymati birdan katta bo'lishi mumkin.
Maksimal raqamli diafragma qiymati 1,4 ni tashkil etadi, bu nazariy va texnik chegaraga yetdi. Hozirgi vaqtda muhit sifatida yuqori sinishi indeksiga ega bromonaftalin ishlatiladi va bromonaftalinning sinishi ko'rsatkichi 1,66 ga teng, shuning uchun NA qiymati 1,4 dan katta bo'lishi mumkin.
Bu erda shuni ta'kidlash kerakki, ob'ektiv linzalarning raqamli diafragmasidan to'liq foydalanish uchun kondensator linzalarining NA qiymati kuzatish paytida ob'ektiv linzalarining NA qiymatiga teng yoki undan biroz kattaroq bo'lishi kerak,
Raqamli diafragma boshqa texnik parametrlar bilan chambarchas bog'liq, chunki u boshqa texnik parametrlarni deyarli aniqlaydi va ta'sir qiladi. U o'lchamlari bilan proportsional, kattalashtirishga proportsional va fokus chuqurligiga teskari proportsionaldir. NA qiymati oshishi bilan ko'rish kengligi va ish masofasi mos ravishda kamayadi.
2, rezolyutsiya
Rezolyutsiya, shuningdek, "diskriminatsiya darajasi" yoki "rezolyutsiya" sifatida ham tanilgan. Mikroskoplarning ishlashini o'lchash uchun yana bir muhim texnik parametrdir.
Mikroskopning aniqligi quyidagi formula bilan ifodalanadi: d=l/NA
Formulada d - minimal ruxsat masofasi; L - yorug'likning to'lqin uzunligi; NA - ob'ektiv linzalarning raqamli diafragma. Ko'rinadigan ob'ektivning o'lchamlari ikki omil bilan belgilanadi: ob'ektivning NA qiymati va yorituvchi yorug'lik manbasining to'lqin uzunligi. NA qiymati qanchalik baland bo'lsa, yorug'lik nurining to'lqin uzunligi qanchalik qisqa bo'lsa, d qiymati shunchalik kichik bo'ladi va piksellar sonini oshiradi.
Rezolyutsiyani yaxshilash, ya'ni d qiymatini kamaytirish uchun quyidagi choralarni ko'rish mumkin
1. To'lqin uzunligi l qiymatini kamaytiring va qisqa to'lqin uzunlikdagi yorug'lik manbasidan foydalaning.
2. Muhitning n qiymatini oshiring va NA qiymatini oshiring (NA=nsinu/2).
3. Diafragma burchagini oshiring.
4. Yorug'lik va qorong'ilik o'rtasidagi kontrastni oshiring.
3, kattalashtirish darajasi
Kattalashtirish - bu kattalashtirish bo'lib, u inson ko'zi tomonidan ko'rilgan yakuniy tasvir hajmining ob'ektiv linzalari va keyin okulyar tomonidan kattalashtirilgandan keyin asl ob'ektning o'lchamiga nisbatini bildiradi. Bu ob'ektiv linza va okulyarning kattalashtirish mahsulotidir.
Kattalashtirish ham mikroskopning muhim parametridir, lekin kattaroq kattalashtirish yaxshiroq ekanligiga ko'r-ko'rona ishonib bo'lmaydi. Tanlashda birinchi navbatda ob'ektiv linzalarning raqamli diafragmasini hisobga olish kerak.
4, Fokus chuqurligi
Fokus chuqurligi - fokus chuqurligining qisqartmasi bo'lib, mikroskopdan foydalanganda fokus ob'ektga to'g'ri kelganda, nafaqat nuqta tekisligida joylashgan nuqtalar aniq ko'rinishi mumkin, balki yuqorida va ma'lum bir qalinlikda ham aniq ko'rinadi. samolyot ostida. Ushbu aniq qismning qalinligi fokus chuqurligi deb ataladi.
Siz tekshirilayotgan ob'ektning butun qatlamini ko'rishingiz mumkin, agar fokus chuqurligi kichik bo'lsa, siz faqat tekshirilayotgan ob'ektning nozik qatlamini ko'rishingiz mumkin. Fokus chuqurligi boshqa texnik parametrlar bilan bog'liq:
1. Fokusning chuqurligi ob'ektiv linzalarning umumiy kattalashtirish va raqamli diafragmasiga teskari proportsionaldir.
2. Fokusning katta chuqurligi va pasaytirilgan piksellar soni.
Kam quvvatli ob'ektivning maydon chuqurligi katta bo'lganligi sababli, u kam quvvatli ob'ektiv bilan suratga olishda qiyinchiliklarga olib keladi. Mikrografiya paytida batafsil kirish taqdim etiladi. V Ko'rish maydonining diametri
Mikroskopni kuzatishda ko'rilgan yorqin prototip diapazoni ko'rish maydoni deb ataladi va uning o'lchami okulyarning ko'rish maydoni bilan belgilanadi.
Ko'rish maydonining diametri, shuningdek, ko'rish maydonining kengligi sifatida ham tanilgan, tekshirilayotgan ob'ektning mikroskop ostida ko'rinadigan dumaloq ko'rish maydoniga joylashtirilishi mumkin bo'lgan haqiqiy diapazoniga ishora qiladi. Ko'rish maydonining diametri qanchalik katta bo'lsa, uni kuzatish osonroq bo'ladi.
Formuladan shuni ko'rish mumkin:
1. Ko'rish maydonining diametri ko'rish maydonlari soniga proportsionaldir.
2. Ob'ektiv linzalarni kattalashtirishni oshirish ko'rish maydonining diametrini kamaytiradi. Shuning uchun, agar sinovdan o'tkazilayotgan ob'ektning to'liq ko'rinishi kam quvvatli ob'ektiv ostida ko'rinsa va yuqori quvvatli ob'ektiv bilan almashtirilsa, tekshirilayotgan ob'ektning faqat kichik bir qismi ko'rinadi.
6, ish masofasi
Ob'ekt masofasi deb ham ataladigan ish masofasi ob'ektiv linzalari oldingi linzalari yuzasi va tekshirilayotgan ob'ekt orasidagi masofani bildiradi. Mikroskopik tekshirish paytida tekshirilayotgan ob'ekt ob'ektiv linzaning fokus uzunligidan bir va ikki baravargacha bo'lishi kerak. Shuning uchun u va fokus uzunligi ikkita tushunchadir va odatda fokuslash deb ataladigan narsa aslida ish masofasini sozlashdir.
Ob'ektiv linzalarning raqamli diafragma aniqlanganda, ish masofasi qanchalik qisqa bo'lsa, diafragma burchagi qanchalik katta bo'ladi.
Katta raqamli diafragma bilan yuqori quvvatli ob'ektiv kichik ish masofasiga ega.
7, yomon qamrov
Mikroskopning optik tizimiga qopqoq oynasi ham kiradi. Qopqoq oynaning nostandart qalinligidan kelib chiqqan holda, qopqoq oynasi orqali havoga kiruvchi yorug'likning optik yo'li sinishining o'zgarishiga olib keladi, buning natijasida qoplama farqlanadi. Yomon qoplamaning paydo bo'lishi mikroskopning ovoz sifatiga ta'sir qiladi.
Xalqaro qoidalarga ko'ra, qopqoq oynasining standart qalinligi 0.17 mm,
Ruxsat etilgan diapazon {0}}.16-0.18 mm va bu qalinlik oralig'idagi farq ob'ektiv linzalarni ishlab chiqarishda hisoblab chiqilgan. Ob'ektiv linzalari qobig'idagi yorliq haqiqatan ham 0,17 ni tashkil etadi, bu ob'ektiv linzalari uchun zarur bo'lgan qopqoq oynasining qalinligini ko'rsatadi.
