Mikroskopning bir qancha muhim optik texnik parametrlari
Mikroskop quyidagi muhim optik texnik ko'rsatkichlarga ega: raqamli diafragma, aniqlik, kattalashtirish, fokus chuqurligi, ko'rish maydoni diametri, ish masofasi va boshqalar Bu parametrlar har doim ham imkon qadar yuqori bo'lmaydi va ular o'zaro bog'liq va bir-birini cheklaydi. Eng yaxshi natijalarga erishish uchun tekshirishning haqiqiy ehtiyojlariga mos keladigan parametrlarni tanlash kerak.
1. Raqamli diafragma (NA)
Raqamli diafragma ob'ektiv linzalarning ishlashini (ravshanligi, fokus chuqurligi va yorqinligi) baholashda asosiy element hisoblanadi.
Raqamli diafragma (NA) quyidagi formula bo'yicha hisoblab chiqilgan.
NA=n×sinx
n=namuna va ob'ektiv linzalari orasidagi muhitning sindirish ko'rsatkichi (havo: n=1, moy: n=1,515)
X: optik o'q va ob'ektiv linzaning markazidan eng uzoqda joylashgan singan yorug'likdan hosil bo'lgan burchak.
Mikroskop bilan kuzatayotganda, agar siz NA qiymatini oshirmoqchi bo'lsangiz, diafragma burchagini oshirib bo'lmaydi. Eng yaxshi usul muhitning sindirish ko'rsatkichini n qiymatini oshirishdir. Ushbu tamoyilga asoslanib, suvga cho'mdiruvchi ob'ektiv linzalar va moyli ob'ektiv linzalar ishlab chiqariladi. Muhitning sindirish ko'rsatkichi n qiymati birdan katta bo'lgani uchun NA qiymati birdan katta bo'lishi mumkin.
Maksimal raqamli diafragma 1,4 ni tashkil qiladi, bu nazariy va texnik jihatdan chegaraga yetdi. Hozirgi vaqtda muhit sifatida yuqori sindirish ko'rsatkichiga ega bromonaftalin ishlatiladi. Bromonaftalinning sinishi indeksi 1,66 ga teng, shuning uchun NA qiymati 1,4 dan katta bo'lishi mumkin.
Bu erda shuni ta'kidlash kerakki, ob'ektiv linzalarning raqamli diafragma rolini to'liq bajarish uchun kondensator linzalarining NA qiymati kuzatish paytida ob'ektiv linzalarining NA qiymatiga teng yoki undan biroz kattaroq bo'lishi kerak.
Raqamli diafragma boshqa texnik parametrlar bilan chambarchas bog'liq bo'lib, u boshqa texnik parametrlarni deyarli aniqlaydi va ta'sir qiladi. U piksellar soniga mutanosib, kattalashtirishga proportsional va fokus chuqurligiga teskari proportsionaldir. NA qiymatining oshishi bilan ko'rish maydonining kengligi va ish masofasi mos ravishda kamayadi.
2. Rezolyutsiya
Rezolyutsiya "diskriminatsiya darajasi" va "rezolyutsiya" sifatida ham tanilgan. Mikroskopning ishlashini o'lchash uchun yana bir muhim texnik parametrdir.
Mikroskopning aniqligi quyidagi formula bilan ifodalanadi: d=l/NA
Bu erda d - minimal aniqlik masofasi; l - yorug'likning to'lqin uzunligi; NA - ob'ektiv linzalarning raqamli diafragma. Ko'rinadigan ob'ektiv linzalarning o'lchamlari ikki omil bilan belgilanadi: ob'ektiv linzaning NA qiymati va yorug'lik manbasining to'lqin uzunligi. NA qiymati qanchalik katta bo'lsa, yorug'lik nurining to'lqin uzunligi qanchalik qisqa bo'lsa va d qiymati qanchalik kichik bo'lsa, piksellar soni shunchalik yuqori bo'ladi.
Ruxsatni oshirish, ya'ni d qiymatini kamaytirish uchun quyidagi choralarni ko'rish mumkin
1. To'lqin uzunligi l qiymatini kamaytiring va qisqa to'lqin uzunlikdagi yorug'lik manbasidan foydalaning.
2. Muhitning n qiymatini oshiring va NA qiymatini oshiring (NA=nsinu/2).
3. Diafragma burchagini oshiring.
4. Yorug'lik va qorong'ilik o'rtasidagi kontrastni oshiring.
3. Kattalashtirish
Kattalashtirish - bu kattalashtirish bo'lib, u tekshirilayotgan ob'ektni ob'ektiv linzalar yordamida kattalashtirgandan so'ng, inson ko'zi tomonidan ko'riladigan yakuniy tasvir hajmining asl ob'ektning o'lchamiga nisbatini bildiradi. ob'ektiv linza va okulyar kattalashtirish mahsuloti.
Kattalashtirish ham mikroskopning muhim parametridir, lekin biz ko'r-ko'rona ishonmasligimiz kerakki, kattalashtirish qanchalik yuqori bo'lsa, shuncha yaxshi bo'ladi. Ob'ektiv linzalarning raqamli diafragmasini tanlashda birinchi navbatda e'tiborga olish kerak.
4. Diqqatning chuqurligi
Fokus chuqurligi - bu fokus chuqurligining qisqartmasi, ya'ni mikroskopdan foydalanganda fokus ma'lum bir ob'ektda bo'lganda, nafaqat bu nuqta tekisligidagi barcha nuqtalar, balki yuqorida ma'lum bir qalinlikda ham aniq ko'rinadi. va tekislik ostida, Aniq bo'lishi uchun, bu aniq qismning qalinligi diqqat chuqurligidir. Diqqat chuqurligi,
Tekshirilayotgan ob'ektning butun qatlamini ko'rishingiz mumkin, lekin kichik fokus chuqurligi bilan siz tekshirilayotgan ob'ektning faqat yupqa qatlamini ko'rishingiz mumkin. Fokus chuqurligi boshqa texnik parametrlar bilan quyidagi bog'liqlikka ega:
1. Fokusning chuqurligi ob'ektiv linzalarning umumiy kattalashtirish va raqamli diafragmasiga teskari proportsionaldir.
2. Fokus chuqurligi katta, o'lchamlari esa kamayadi.
Kam kattalashtiruvchi ob'ektiv linzalari maydonining katta chuqurligi tufayli, past kattalashtiruvchi ob'ektiv linzalari bilan suratga olish qiyin. Bu fotomikrograflarda batafsilroq tavsiflanadi. 5. Ko'rish maydonining diametri
Mikroskopni kuzatishda ko'rilgan yorqin asl maydon ko'rish maydoni deb ataladi va uning o'lchami okulyardagi maydon diafragmasi bilan belgilanadi.
Ko'rish maydonining diametri ko'rish maydonining kengligi deb ham ataladi, bu mikroskop ostida ko'rinadigan aylana ko'rish maydoniga joylashtirilishi mumkin bo'lgan tekshirilayotgan ob'ektning haqiqiy diapazonini bildiradi. Ko'rish maydonining diametri qanchalik katta bo'lsa, uni kuzatish osonroq bo'ladi.
Buni formuladan ko'rish mumkin:
1. Ko'rish maydonining diametri ko'rish maydonlari soniga proportsionaldir.
2. Ob'ektiv linzalarning ko'paytirilishi ko'rish maydonining diametrini kamaytiradi. Shuning uchun, agar siz past quvvatli ob'ektiv ostida tekshirilayotgan ob'ektning butun rasmini ko'rsangiz va yuqori quvvatli ob'ektivga o'tsangiz, tekshirilayotgan ob'ektning faqat kichik qismini ko'rishingiz mumkin.
6. Ishlash masofasi
Ish masofasi ob'ektiv masofasi deb ham ataladi, bu ob'ektiv linzaning oldingi linzalari yuzasidan tekshiriladigan ob'ektgacha bo'lgan masofani bildiradi. Mikroskop bilan tekshirish paytida tekshiriladigan ob'ekt ob'ektiv linzalarining fokus uzunligidan bir va ikki baravar ko'p bo'lishi kerak. Shuning uchun u va fokus uzunligi ikkita tushunchadir. Odatda fokuslash deb ataladigan narsa aslida ish masofasini sozlashdir.
Ob'ektiv linzalarning ma'lum bir raqamli diafragma holatida ish masofasi qisqa va diafragma burchagi katta.
Katta raqamli diafragma bilan yuqori quvvatli ob'ektiv linzalari kichik ish masofasiga ega.
7. Yomon qamrov
Mikroskopning optik tizimi lamelni ham o'z ichiga oladi. Qopqoq oynaning nostandart qalinligi tufayli, qopqoq oynasidan havoga kirgandan so'ng yorug'likning optik yo'li o'zgaradi, buning natijasida fazalar farqi paydo bo'ladi, bu esa yomon qoplamadir. Yomon qoplamaning paydo bo'lishi mikroskopning ovoz sifatiga ta'sir qiladi.
Xalqaro qoidalarga ko'ra, qopqoq oynasining standart qalinligi 0.17 mm,
Ruxsat etilgan diapazon {0}}.16-0.18 mm. Ushbu qalinlik oralig'idagi fazalar farqi ob'ektiv linzalarni ishlab chiqarishda hisoblab chiqilgan. Ob'ektiv linzalari qobig'idagi standart haqiqatan ham 0,17 ni tashkil qiladi, ya'ni ob'ektiv linzalar qopqoq oynasining qalinligini talab qiladi.
