Yangi energiya vositalarini sinovdan o'tkazish multimetrlarini o'lchashda e'tiborga molik nuqtalar
(1) Yangi energiya vositasini aniqlash multimetri katta o'lchov xatolariga olib kelmaslik uchun sinovdan o'tkazilayotgan kontaktlarning zanglashiga olib keladigan qarshiligidan kamida 10 barobar ko'p bo'lgan etarlicha katta ichki qarshilikka ega bo'lishi kerak.
(2) Sinov o'tkazgichlari yoki problari uchun sirpanishga qarshi choralar ko'rish kerak. Har qanday lahzali qisqa tutashuv integral sxemaga osongina zarar etkazishi mumkin. Sinov ruchkasi sirg'alib ketishining oldini olish uchun quyidagi usullarni qo'llash mumkin: velosiped klapanining yadrosini oling va uni sinov ruchkasi uchiga qo'ying va sinov ruchkasi uchini taxminan 0,5 mm ga o'stiring, bu esa nafaqat o'sishni ta'minlaydi. sinovdan o'tgan nuqta bilan yaxshi aloqada bo'lgan qalam uchini sinab ko'ring, lekin ayni paytda sirg'anishning oldini oladi. Qo'shni nuqtaga tegsa ham qisqa tutashuv bo'lmaydi.
(3) Ma'lum bir pinning o'lchangan kuchlanishi normal qiymatga mos kelmasa, pin kuchlanishining integral mikrosxemaning normal ishlashiga muhim ta'sir ko'rsatishi va boshqa pinlarning kuchlanishidagi mos keladigan o'zgarishlarga qarab tahlil qilish kerak. , Integral mikrosxemalar yaxshi yoki yomon ekanligini hukm qilish uchun.
(4) IC pin kuchlanishiga periferik komponentlar ta'sir qiladi. Periferik qismlarda oqish, qisqa tutashuv, ochiq tutashuv yoki qiymat o'zgarishi sodir bo'lganda yoki periferik sxema o'zgaruvchan qarshilikka ega potansiyometrga ulangan bo'lsa, potansiyometrning toymasin qo'lining holati boshqacha bo'lib, bu pin kuchlanishining o'zgarishiga olib keladi.
(5) Agar integral mikrosxemaning har bir pinining kuchlanishi normal bo'lsa, odatda integral sxema normal deb hisoblanadi; agar integral mikrosxemaning ba'zi pinlarining kuchlanishi g'ayritabiiy bo'lsa, siz normal qiymatdan og'ish eng katta bo'lgan nuqtadan boshlashingiz va periferik komponentlarning noto'g'ri ekanligini tekshirishingiz kerak. Integratsiyalashgan sxema shikastlangan bo'lishi mumkin.
(6) Televizor kabi dinamik qabul qiluvchi qurilma uchun signal mavjud yoki yo'q bo'lganda integral mikrosxemaning har bir pinining kuchlanishi boshqacha. Agar pin kuchlanishining o'zgarmasligi, lekin katta darajada o'zgarishi va signal o'lchami va sozlanishi elementning turli pozitsiyalari bilan o'zgarishi kerak bo'lgan narsa o'zgarmasligi aniqlansa, integral mikrosxema buzilganligini aniqlash mumkin.
(7) Bir nechta ish rejimiga ega qurilmalar uchun integral mikrosxemaning har bir pinining kuchlanishi turli ish rejimlarida ham farq qiladi.
