Atom kuch mikroskopida faza va balandlik xaritalarini farqlash
Atom kuch mikroskopida faza va balandlik xaritalarini farqlash
Bu vaqtda, u bilan o'zaro ta'sir qiladi, van der Waals kuchi yoki Casimir effekti va boshqalar namunaning sirt xususiyatlarini taqdim etish uchun, tizim tarkibini aniqlash, ko'rsatish va qayta ishlash maqsadiga erishish uchun, maqsad bo'lmagan qilishdir. - Supero'tkazuvchilar shunga o'xshash Skanerli zond mikroskopiyasi (SPM) kuzatish usulidan ham foydalanishlari mumkin.
U asosan nanometr o'lchamlari bilan sirt topografiyasi tuzilishi va sirt pürüzlülüğü ma'lumotlarini olish uchun igna uchi bo'lgan mikro-konsoldan iborat. Atom kuch mikroskopi 1985 yilda IBM Tsyurix tadqiqot markazi xodimi Gerd Binning tomonidan ixtiro qilingan. U qattiq jismlarning sirtini o'lchashi mumkin, bu qattiq materiallarning sirt tuzilishini, shu jumladan izolyatorlarni o'rganish uchun ishlatilishi mumkin bo'lgan analitik asbob. Atom bog'lanish, interferometriya va boshqa optik usullarni aniqlash, AFM). Konsolning harakatini tunnel oqimini aniqlash yoki nurning burilishini atom kuchi mikroskopiyasi (Atom kuchlari mikroskopi, uning harakatini kuzatish uchun qayta aloqa halqalari, kompyuter tomonidan boshqariladigan tasvirni olish va o'tkazuvchan bo'lmaganlar) kabi elektr usullari yordamida o'lchash mumkin.
