Mikroskopik tadqiqotlarda materiallarning xususiyatlariga e'tibor berish kerak
(1) Ko'p miqyosli moddiy mikro tuzilma: Olympus mikroskopining atom va molekulyar darajasi, dislokatsiya, don mikroyapı darajasi, mezostruktura darajasi, makro tuzilma darajasi va boshqalar kabi kristall nuqson darajasi;
(2) Moddiy mikro tuzilmaning bir xilligi: haqiqiy mikro tuzilma ko'pincha geometriyada bir jinsli, kimyoviy tarkibda va mikroskopik xususiyatlarda (mikroqattiqlik, mahalliy elektrokimyoviy potentsial kabi) jins va boshqalarda bir xillikka ega;
(3) Materialning mikro tuzilishining yo'nalishi: tahlil qilinishi kerak bo'lgan don shaklining anizotropiyasi, past kattalashtiruvchi strukturaning yo'nalishi, kristallografik yo'nalish, materialning makroskopik xususiyatlarining yo'nalishi va boshqalar. va alohida tahlil qilinadi. vakillik;
(4) Materiallar mikro tuzilishining o'zgaruvchanligi: kimyoviy tarkibdagi o'zgarishlar, tashqi omillar va vaqt o'zgarishlariga olib keladigan o'zgarishlar va mikro tuzilma evolyutsiyasi materiallarning mikro tuzilishidagi o'zgarishlarga olib kelishi mumkin. Miqdoriy tahlilga qo'shimcha ravishda, qattiq holatning fazaga o'tish jarayonini, mikro tuzilma evolyutsiyasi kinetikasini va evolyutsiya mexanizmini o'rganish zarurmi yoki yo'qligiga e'tibor qaratish lozim;
(5) Materiallar mikro tuzilishining mumkin bo'lgan fraktal xarakteristikalari va aniq metallografik kuzatuvlarda mavjud bo'lishi mumkin bo'lgan rezolyutsiyaga bog'liq xususiyatlar: bu mikro tuzilmaning miqdoriy tahlil natijalarini tasvir o'lchamlariga kuchli bog'liq bo'lishiga olib kelishi mumkin. To'qimalarning morfologiyasining miqdoriy tahlilini o'tkazish va mikrostruktura raqamli tasvir fayllarini saqlash va qayta ishlashda bunga ko'proq e'tibor qaratish lozim;
(6) Materiallarning mikro tuzilishi bo'yicha miqdoriy bo'lmagan tadqiqotlarning cheklovlari: Mikro tuzilma bo'yicha sifatli tadqiqotlar materiallar muhandisligi ehtiyojlarini qondirishi mumkin bo'lsa-da, materialshunoslik tahlili va tadqiqotlari har doim mikro tuzilmaning geometriyasini miqdoriy aniqlashga muhtoj. Olingan miqdoriy tahlil natijalarini aniqlash va xatolarni tahlil qilish (tasodifiy xato, tizimli xato, qo'pol xato);
(7) Materiallar mikroyapı kesmasi yoki proektsiyani kuzatishning cheklovlari va boshqalar. Cho'yan yorma grafit va pearlitning uch o'lchovli strukturasining chuqur eroziyasi kuzatuvlari shuni ko'rsatdiki, bunday cheklashlar kesma yoki prognozli tasvirlarni osongina noto'g'ri talqin qilishga olib kelishi mumkin. .
Shuni ta'kidlash kerakki, kesma tasvirlar (masalan, optik metallografiya va SEM tasvirlari) va proyeksiya tasvirlari (masalan, TEM tasvirlari) uchun turli xil stereologik printsiplar va munosabatlardan foydalanish kerak va proyeksiya tasvirlarini stereologik tahlil qilish ancha qiyinroq. ].
(6) va (7) cheklovlari uchun chuqur qirqish, don yoki ikkinchi fazani ajratish, rentgenografiya, stereo ko'rish, konfokal mikroskopiya, atom kuch mikroskopiyasi, dala ion mikroskopiyasi, mikro-KT va tegishli texnologiyalar, uch o'lchamli to'qimalarni qayta tiklash to'g'ridan-to'g'ri tasvirlash va materiallarning uch o'lchovli mikro tuzilishini eksperimental kuzatish uchun bir qator tasavvurlar tasvirlari va boshqa usullardan foydalanilgan. Ammo ularning aksariyati faqat juda maxsus holatlar uchun mos keladi yoki ish yuki juda katta yoki ular faqat namunaning sirtini tasvirlashi va kuzatishi mumkin. Ular orasida sanoat mikro-CT texnologiyasi material ichidagi aniq zichlikdagi farqlarga ega bo'lgan katta o'lchamdagi nuqsonlarni buzilmaydigan sinov uchun juda samarali bo'lib, yangi tadqiqot va ishlanma yo'nalishi bo'lishi mumkin, ammo mikro tuzilmani kuzatish uchun qaror. materiallarni ko'rish kerak. Oshgan (hozirda uning eng yuqori ruxsati mikron darajasida). Bir qator kesma metallografik tasvirlarni eksperimental ravishda olish mumkin bo'lganda, 3D rekonstruksiya va kompyuter simulyatsiyasi texnikasi 3D to'g'ridan-to'g'ri kuzatish uchun juda foydali. Bundan tashqari, bevosita kuzatish har doim ham to'g'ridan-to'g'ri o'lchashni anglatmaydi. Shuni ta'kidlash kerakki, agar materialning uch o'lchamli vizualizatsiyasini amalga oshirish mumkin bo'lmasa yoki uning miqdoriy tavsifi ma'lumotlari vizual tarzda ko'rsatilgan bo'lsa ham, stereologik tahlil yordamida uch o'lchovli to'qimalar tuzilishini xolis miqdoriy o'lchash mumkin. kichik xarajat. Shuning uchun u targ'ib qilishga arziydigan mikro tuzilmani miqdoriy tahlil qilish va tavsiflash uchun ajralmas vositaga aylandi.
Materiallarning mikro tuzilishi tasvirlarini olish, saqlash va uzatishning yangi usullarining doimiy ravishda paydo bo'lishi va takomillashtirilishi, shuningdek, tasvirni qayta ishlash va tahlil qilishning yaxshi usullari, stereoologiya tamoyillari va eksperimental texnikaning doimiy rivojlanishi va ommalashishi, kompyuter texnikasining jadal rivojlanishi. va dasturiy ta'minot imkoniyatlari. Ikkalasi ham materialning mikro tuzilishi morfologiyasini ishlab chiqish va qo'llash uchun sifat tavsifidan miqdoriy tavsifga, ikki o'lchovli kuzatishdan uch o'lchovli geometrik shakl ma'lumotlarini sinab ko'rishgacha bo'lgan noyob imkoniyatni taqdim etadi. Eksperimental usullarni avtomatlashtirishning yuqori darajasi va mikrotuzilmaning katta miqdordagi miqdoriy ma'lumotlarini oson olish ham ba'zi ilg'or tasvirlarni tahlil qilish eksperimental usullaridan noto'g'ri foydalanish yoki keraksiz foydalanish uchun ko'proq imkoniyatlarga olib keldi, bu esa yuqori baholanishi mumkin emas.
