+86-18822802390

Yaqin maydon optik mikroskopining qo'llanilishi

Oct 13, 2023

Yaqin maydon optik mikroskopining qo'llanilishi

 

Yaqin maydon optik mikroskopiyasi an'anaviy optik mikroskopiyaning kamchiliklarini, masalan, past piksellar sonini va skanerlash elektron mikroskopiya va skanerlash tunnel mikroskopiyasi natijasida kelib chiqqan biologik namunalarga zarar etkazishi mumkinligi sababli, u tobora ko'proq, ayniqsa biomeditsina sohalarida qo'llanilmoqda. shuningdek nanomateriallar va mikroelektronika.


Skanerlovchi yaqin maydon optik mikroskopiyasi (SNIM) SNOM texnologiyasining infraqizil sohada qo'llanilishi bo'lgan SNOM tarmog'idir. Yuqori aniqlikdagi ma'lumotlarni olish uchun lokalizatsiya, skanerlash va yaqin maydonni zondlash uchun mikroproblar SNIMning juda muhim qismlaridir. Mikroproblarning ko'p shakllari mavjud bo'lib, ular taxminan ikki toifaga bo'linadi: kichik teshikli zondlar va teshiksiz zondlar va kichik teshikli zondlar ko'pincha optik tolali zondlardir. Optik tolali zonddan sinovdan o'tkazilayotgan namunagacha bo'lgan masofa aniq bo'lsa, optik tolali probning o'tish teshigining o'lchami va uchining konus burchagi shakli SNIMning o'lchamlari, sezgirligi va uzatish samaradorligini aniqlaydi. Biroq, SNIM va mikroprob uchun infraqizil tolani qilish qiyin. Ko'rinadigan to'lqin uzunligi diapazonida optik tolali zondlarni tayyorlash bilan solishtirganda, bir tomondan, o'rta infraqizil to'lqin uzunligi diapazoni (2.5-25 mm) uchun mos keladigan optik tolalarning juda kam turlari mavjud; boshqa tomondan, mavjud infraqizil optik tolalar mo'rt bo'lib, zaif egiluvchanlik va moslashuvchanlik va qoniqarsiz kimyoviy xususiyatlarga ega. Yorug'likning zaiflashishini kamaytirish uchun yuqori sifatli infraqizil tolali probni yaratish qiyin.


Ba'zi xorijiy tadqiqot SNIM institutlari zondda yorug'lik problarining boshqa usullarida, masalan, Yaponiyaning Kawata va boshqa sferik prizma zondlari, Germaniyaning Fischer va boshqa tetraedral zondlari, yaqinda KNOLL va boshqa yarimo'tkazgichlar (masalan, kremniy) polimerlaridan foydalanishda foydalanilgan. g'ovak bo'lmagan sochuvchi problardan va boshqalardan yasalgan. Yuqoridagi mikroprob yechimi biz uchun dargumon, chunki talab qilinadigan ishlab chiqarish jarayonining yuqori darajasi, maxsus jihozlar talab qilinadi va bizning SNIM dizaynimiz aks ettirish rejimini tanlaganligi sababli, zui nihoyat optik tolali prob yechimini qabul qildi.


Mikroprobni ishlab chiqish jarayonida e'tiborga olish kerak bo'lgan ikkita jihat bor: bir tomondan, kichik teshik orqali optik probni iloji boricha kichikroq qilish kerak, boshqa tomondan, yorug'likning kichik teshikdan oqib o'tishi kerak. yuqori signal-shovqin nisbatini olish uchun iloji boricha kattaroq. Optik tolali problar uchun igna qismining diametri qanchalik kichik bo'lsa, piksellar soni shunchalik yuqori bo'ladi, lekin yorug'lik oqimi kichikroq bo'ladi. Shu bilan birga, zond uchining qismi qanchalik qisqa bo'lsa, shuncha yaxshi bo'ladi, chunki uchi qanchalik uzun bo'lsa, to'lqin uzunligidan kichikroq to'lqin qo'llanmasi orqali yorug'lik tarqalishi ham shunchalik uzoqroq bo'ladi, shuning uchun yorug'likning susayishi shunchalik katta bo'ladi. Shuning uchun, maqsadga intilishda optik tolali prob ishlab chiqarish kichik igna o'lchamini va qisqa uchining uchini olishdir.

 

4 Electronic Magnifier

So'rov yuborish