Infraqizil mikroskopni elektronika sanoatida kichik qurilmalarda qo'llash
Nanotexnologiyaning rivojlanishi bilan uning yuqoridan pastga qisqarish usuli yarimo'tkazgich texnologiyasi sohasida tobora ko'proq foydalanilmoqda. Ilgari biz hammamiz IC texnologiyasini "mikroelektronika" texnologiyasi deb ataganmiz, chunki tranzistorlar hajmi mikron (10-6 metr) darajasida edi. Biroq, yarimo'tkazgich texnologiyasi juda tez rivojlanmoqda. Har ikki yilda bir avlod o'sib boradi va uning hajmi asl hajmining yarmigacha qisqaradi. Bu mashhur Mur qonuni. Taxminan 15 yil oldin yarimo'tkazgichlar mikrondan kichikroq bo'lgan mikron osti davriga kira boshladi, keyin esa mikrondan ancha kichik bo'lgan chuqur mikron erasiga o'tdi. 2001 yilga kelib tranzistor o‘lchamlari 0,1 mikrondan yoki 100 nanometrdan ham kichikroq edi. Bu nanoelektronika davri va kelajakdagi IClarning aksariyati nanotexnologiyadan tayyorlanadi.
malaka talablari:
Hozirgi vaqtda elektron qurilmalarning asosiy nosozlik shakli termal nosozlikdir. Statistik ma'lumotlarga ko'ra, elektron qurilmalarning ishdan chiqishining 55 foizi haroratning belgilangan qiymatlardan oshib ketishi bilan bog'liq. Haroratning oshishi bilan elektron qurilmalarning ishdan chiqish darajasi eksponent ravishda oshadi. Umuman olganda, elektron komponentlarning ishlash ishonchliligi haroratga juda sezgir. Qurilma haroratining 70-80 darajadan yuqori boʻlgan har 1 daraja oshishi uchun ishonchlilik 5% ga kamayadi. Shuning uchun qurilmaning haroratini tez va ishonchli aniqlash kerak. Yarimo'tkazgichli qurilmalarning o'lchamlari kichikroq va kichikroq bo'lishi bilan, aniqlash uskunasining harorat o'lchamlari va fazoviy o'lchamlariga yuqori talablar qo'yiladi.
Sink infiltratsiya qatlamining chuqurligini asbob mikroskopi bilan qanday o'lchash mumkin
Asbob mikroskopi yordamida sink qatlamining chuqurligini qanday o'lchash mumkin:
1. Namunani kesib oling (sink infiltratsiyalangan namuna yangi metall yuzasini ochish uchun metallografik kesish mashinasi bilan o'qning vertikal yo'nalishi bo'ylab kesiladi, so'ngra plastmassa qilish uchun metall namunasini bakelit kukuniga joylashtirish uchun inlay mashinasidan foydalaning. metall kompozit namuna (namuna) Uni asbob mikroskopining ish stoliga qo'ying, yorug'lik manbasini yoqing, sirt yorug'lik manbasini sozlang, fokus va kattalashtirishni sozlang, shunda kompyuter ekranida aniq tasvir paydo bo'ladi.
2. Ishchi dastgohning X va Y yo'nalishi tugmachalarini kursorning kesishgan chizig'i metall kirish qatlamining kritik nuqtasiga mos keladigan tarzda aylantiring, nuqtalarning koordinatalarini olish uchun pedalga qadam qo'ying va olingan har ikki koordinata nuqtasini aniqlang. to'g'ri chiziq, natijada jami 4 ball. ikkita to'g'ri chiziq hosil qiling,
3. Ikki to'g'ri chiziq orasidagi masofani, ya'ni sink infiltratsiyalangan qatlam chuqurligini to'g'ridan-to'g'ri topish uchun dasturiy ta'minotdagi to'g'ri chiziqlar orasidagi masofa funksiyasidan foydalaning. Sink-infiltratsiyalangan qatlamning chuqurligini o'lchash uchun asbob mikroskopidan foydalanish intuitivdir. Shu bilan birga, asbob mikroskopining tegishli dasturiy ta'minoti boshqa nostandart namunalarning sink infiltratsiyalangan qatlamining chuqurligini ham o'lchashi mumkin.
