AFM testi va amaliy tadqiqotlar
Atom kuchlari mikroskop (AFM) mikrosiqantanlik emas, atom darajasidagi rezolyutsiyaga erishish uchun aniqlanishga erishish, aniqlanish bo'yicha maqsadli tekshiruvlar orasidagi kuchlarni e'tiborga soladi. Atom kuch mikroskopi - bu iflos materiallar, shu jumladan, ya'ni moddalarning sirt tuzilishini o'rganish, moddalarning sirt tuzilishini o'rganish va nanoskale rezolyutsiyasida sirt tuzilishi haqida ma'lumot olish mumkin bo'lgan analitik vositadir.
Atom kuchlarining asosiy tarkibiy qismi mikroskopiya (AFM) - bu namuna yuzasini skanerlash uchun boshidagi aniq tekshiruv bilan mikrokreditlar. So'rovning bu turi o'ngadan yuzlab mikrometrgacha bo'lgan va odatda kremniy yoki kremniy nitrididan iborat. U yuqori darajadagi tekshiruvga ega va probeçning egri radiusi nanometr oralig'ida. Doimiy balandlikda skanerlash paytida, ehtimol, yuzasi bilan to'qnashishi va zarar etkazishi mumkin. Shunday qilib, odatda aloqa tizimlari orqali saqlanadi.
Asosiy printsip: Ma'lumot olish uchun namuna yuzasini "o'rganishga" o'rganadigan mayda problarni ishlatish
Atom kuch mikroskopiyasi zond va namuna o'rtasida namunaning sirtor morfologiyasini aniqlash uchun atom kuchlari o'rtasidagi munosabatlardan foydalanadi. Atom kuchida mikroskopiya (afm), mikrokantileverinning bir uchi belgilangan va qolgan uchi kichkina igna uchi bor. Odatda mikrokantileverning uzunligi bir necha mikrometr va bir necha o'nlab mikrometrlar orasida, igna uchining diametri odatda bir nechta nanometr va bir necha o'nlab nanometrlar orasida. AFM ishlayotganda, ignaning uchi namuna yuzasini engil bog'laydi va namuna mikrokanlyileverinning deformatsiya yoki tebranishiga olib kelishi mumkin. Ushbu o'zaro ta'sir kuchlari vanna kuchlari, elektrostatik kuch, magnit kuch, namunaviy yuzaning morfologiyasi va fizik xususiyatlarini aniqlash mumkin.
AFM keng qamrovli dasturlarga ega va metallar, yarimo'tkazgichlar, kokamerlar, biologiya, nanoinmilly va boshqalar kabi naninchapulyatsiyani o'rganish uchun ishlatilishi mumkin.
